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器件分析
DEVICE ANALYSIS
配備國際先進(jìn)的測(cè)試儀器
器件實(shí)驗(yàn)室配備國際先進(jìn)的測(cè)試儀器，可提供功率器件8寸晶圓和封裝后產(chǎn)品全面的電性
能測(cè)試，包括靜態(tài)測(cè)試、動(dòng)態(tài)測(cè)試、熱阻測(cè)試、3D超景深顯微鏡等項(xiàng)目，為產(chǎn)品研發(fā)、
生產(chǎn)確認(rèn)和產(chǎn)品終測(cè)提供可靠的測(cè)試數(shù)據(jù)。
DEVICE ANALYSIS
配備國際先進(jìn)的測(cè)試儀器
器件實(shí)驗(yàn)室配備國際先進(jìn)的測(cè)試儀器，可提供功率器件8寸晶圓和封裝后產(chǎn)品全面的電性能測(cè)試，包括靜態(tài)測(cè)試、動(dòng)態(tài)測(cè)試、熱阻測(cè)試、3D超景深顯微鏡等項(xiàng)目，為產(chǎn)品研發(fā)、生產(chǎn)確認(rèn)和產(chǎn)品終測(cè)提供可靠的測(cè)試數(shù)據(jù)。
